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半導體集成電路ECL電路測試方法的基本原理

標 準 號： SJ/T 10737-1996
替代情況： 替代 GB 3441-82
發(fā)布單位： 國家標準局
起草單位：
發(fā)布日期： 1996-11-20
實施日期： 1997-01-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2024年08月19日
內容摘要

本標準規(guī)定了半導體集成電路ECL電路（以下簡稱器件）靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)測試方法的基本原理。


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