本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）標(biāo)準(zhǔn)IEC 748-4-2：1993《半導(dǎo)體器件 集成電路 第4部分：接口集成電路 第二篇：線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)》，以促進(jìn)我國(guó)該類產(chǎn)品的國(guó)際貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟(jì)交流。本標(biāo)準(zhǔn)可作為編制線性ADC詳細(xì)規(guī)范的依據(jù)。IEC電子器件質(zhì)量評(píng)定體系遵循IEC的章程并在IEC授權(quán)下進(jìn)行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評(píng)定程序，以這種方式使一個(gè)參加國(guó)按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子器件無需進(jìn)一步試驗(yàn)而為其所有參加國(guó)同樣接受。本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一，并且與下列IEC標(biāo)準(zhǔn)一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范IEC 748-11/QC 790100 半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路（不包括混合電路）分規(guī)范