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半導(dǎo)體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 35006-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 工業(yè)和信息化部電子第五研究所等
發(fā)布日期: 2018-03-15
實(shí)施日期: 2018-08-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2018年05月12日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電平轉(zhuǎn)換器(以下稱為器件)功能、靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)的測(cè)試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路電平轉(zhuǎn)換器功能、靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)的測(cè)試。

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