本標準規(guī)定了半導體集成電路 低電壓差分信號（LVDS，Low Voltage Differential Signaling）電路（以下稱為器件）靜態(tài)參數(shù)、動態(tài)參數(shù)測試方法的基本原理。
本標準適用于低電壓差分信號電路靜態(tài)參數(shù)、動態(tài)參數(shù)的測試。