本文件規(guī)定了使用安裝在電子探針（EPMA）或掃描電鏡（SEM）上的能譜儀（EDS）或波譜儀（WDS）分析粉末中的顆粒時(shí)的試樣制備方法。根據(jù)分析目的和顆粒尺寸，對(duì)粉末顆粒試樣的制備方法進(jìn)行了分類(lèi)。
本文件適用于粒徑范圍在100 nm~100 μm的無(wú)機(jī)物顆粒。
本文件不適用于一些特殊應(yīng)用，如法醫(yī)分析或痕量分析。