本文件規(guī)定了采用電子背散射衍射（electron backscatter diffraction，EBSD）法測量鋼中奧氏體體積分數(shù)和形態(tài)的方法、設備、取樣和試樣制備、測量步驟、數(shù)據(jù)處理和檢驗報告。
本文件適用于分析含有晶粒尺寸50 nm以上奧氏體的中、低碳鋼及中、低碳合金鋼。
本文件不適用于分析晶粒尺寸小于50 nm的奧氏體，奧氏體晶粒尺寸小于50 nm會嚴重影響定量分析結果的準確性。
注： 晶粒尺寸下限是可觀察到的最小奧氏體晶粒尺寸。晶粒尺寸下限取決于設備條件和操作參數(shù)。