GB/T17416的本部分規(guī)定了X射線熒光光譜法測定鋯礦石中鋯量和鉿量的方法。
本部分適用于鋯礦石,也適用于其他稀有金屬礦石中鋯量和鉿量的測定。
測定范圍:0.0016%~8.7%(質(zhì)量分數(shù))鋯量(以二氧化鋯計);0.0034%~3.0%(質(zhì)量分數(shù))鉿量(以二氧化鉿計)。