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硅材料用高純石墨制品中雜質(zhì)含量的測(cè)定 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): YB/T 4590-2017
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位: 冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院等
發(fā)布日期: 2017-04-12
實(shí)施日期: 2017-10-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2019年06月06日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測(cè)定多晶硅用高純石墨制品中鋁、鈣、銅、鐵、鉀、鎂、鈉、磷、砷、鋅、鎳、鉻、硼含量的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于多晶硅用高純石墨制品中鋁、鈣、銅、鐵、鉀、鎂、鈉、磷、砷、鋅、鎳、鉻、硼含量的測(cè)定。

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