本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通過(guò)掃描電子顯微鏡(SEM)檢測(cè)金屬試樣橫截面局部厚度的方式測(cè)量金屬涂層厚度的方法。它通常是一種破壞性的檢測(cè)方式,不確定度小于10%,或者0.1μm。該測(cè)量方法也可以用 來(lái)測(cè)量幾個(gè)毫米厚的涂層,但是對(duì)于這類厚涂層建議采用光學(xué)顯微鏡法(GB/T6462)進(jìn)行測(cè)量。