本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)污染試驗的環(huán)境試驗方法。
注： 本文件中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學(xué)物質(zhì)1)(以下簡稱“試劑”)同光學(xué)和光子學(xué)儀器的接觸。
本文件適用于有關(guān)光學(xué)和光子學(xué)儀器，包括來自其他領(lǐng)域(如機械、化學(xué)和電子設(shè)備）的污染試驗。
本文件不適用于作為正常的生產(chǎn)控制。