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半導體器件 機械和氣候試驗 第1部分:總則

標 準 號： GB/T 4937.1-2006
替代情況： 替代 GB/T 4937-1995
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位： 中國電子科技集團公司第十三研究所
發(fā)布日期： 2006-08-23
實施日期： 2007-02-01
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更新日期： 2019年06月30日
內(nèi)容摘要

本部分代替GB/T 4937-1995《半導體器件 機械和氣候試驗方法》第Ⅰ篇總則。本部分適用于半導體器件（分立器件和集成電路）并為GB/T 4937系列的其他部分建立通用準則。

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