本部分規(guī)定了帶有接觸式探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)特性的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)的方法，且僅在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)有以下配置時(shí)適用：
　　--任何類型接觸式探測(cè)系統(tǒng)；
　　--離散點(diǎn)探測(cè)的模式；
　　--探針針頭為球形或半球形。
　　GB/T 16857的本部分適用于有以下任一配置的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：
　　a） 單探針探測(cè)系統(tǒng)；
　　b） 多探針探測(cè)系統(tǒng)，即一個(gè)測(cè)頭下固定地連接了多個(gè)探針（如星形探針）；
　　c） 多測(cè)頭探測(cè)系統(tǒng)，如配置了多個(gè)測(cè)頭，每個(gè)測(cè)頭都安裝了探針；
　　d） 萬(wàn)向探測(cè)系統(tǒng)；
　　e） 探針和測(cè)頭交換系統(tǒng)；
　　f） 手動(dòng)（無(wú)驅(qū)動(dòng)式）坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。
　　本部分不適用于非接觸式的探測(cè)系統(tǒng)，它需要不同的檢測(cè)步驟。
　　為方便用戶，將坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的多探針探測(cè)系統(tǒng)的尺寸誤差簡(jiǎn)稱為多探針尺寸誤差。
　　如果有可能把探測(cè)系統(tǒng)的特性與坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的特性分離，那么坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的影響就可以忽略。詳細(xì)信息參見(jiàn)附錄C。