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集成電路 電磁抗擾度測量 第1部分：通用條件和定義

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 42968.1-2023
替代情況：
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 北京無線電計(jì)量測試研究所、上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院、中國家用電器研究院等
發(fā)布日期： 2023-09-07
實(shí)施日期： 2024-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2023年12月28日
內(nèi)容摘要

本文件定義了集成電路（IC）傳導(dǎo)和輻射騷擾電磁抗擾度測量的通用信息，描述了常規(guī)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)設(shè)備和布置、試驗(yàn)程序和試驗(yàn)報(bào)告內(nèi)容。
附錄A中給出了試驗(yàn)方法的對照表，幫助選擇適當(dāng)?shù)臏y量方法。

如需幫助，請聯(lián)系我們。聯(lián)系電話400-6018-655。
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