本文件規(guī)定了集成電路（IC）對標(biāo)準(zhǔn)傳導(dǎo)電瞬態(tài)騷擾的抗擾度測量方法。與受試器件（DUT）運(yùn)行不同步的騷擾通過耦合網(wǎng)絡(luò)施加給IC引腳。
不管電瞬態(tài)騷擾是否在IC規(guī)定的工作電壓范圍之內(nèi)，本方法都能夠得到傳導(dǎo)電瞬態(tài)騷擾和其引起的IC性能降級之間的相互關(guān)系并對其進(jìn)行分類。