本文件規(guī)定了半導體集成電路驅(qū)動器（以下簡稱器件）的電特性測試方法的基本原理和測試程序。
本文件適用于74/54系列驅(qū)動器、總線驅(qū)動器、PIN開關(guān)驅(qū)動器、達林頓驅(qū)動器、時鐘驅(qū)動器、LVDS驅(qū)動器、MOSFET驅(qū)動器和差分驅(qū)動器等各種半導體工藝制造的驅(qū)動器的電性能測試。
其他類別驅(qū)動器的測試參考使用。