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功率半導體器件老化系統(tǒng)校準規(guī)范

標 準 號: JJF(電子)00014-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國電子技術(shù)標準化研究院 等
發(fā)布日期: 2018-04-30
實施日期: 2018-07-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2023年09月27日
內(nèi)容摘要

本規(guī)范適用于直流電壓≤4500V,直流電流≤200A的功率半導體器件老化系統(tǒng)(以下簡稱老化系統(tǒng))的校準,功率半導體器件老化系統(tǒng)覆蓋環(huán)境應(yīng)力、直流功率應(yīng)力等,常見設(shè)備包括:高溫反偏老化系統(tǒng)、高低溫老化測試系統(tǒng)、大功率(含微波)晶體管老化系統(tǒng)、高溫高濕反偏老化系統(tǒng)、大功率晶體管老化系統(tǒng)、電容器高溫老化系統(tǒng)等各種常見半導體器件/元件老化系統(tǒng),其他元器件老化系統(tǒng)可參考進行校準。

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