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光學(xué)和光子學(xué) 微透鏡陣列 第2部分:波前像差的測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 41869.2-2022
替代情況:
發(fā)布單位: 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 西安西谷微電子有限責(zé)任公司、浙江偉星光學(xué)有限公司、上海瑞立柯信息技術(shù)有限公司 等
發(fā)布日期: 2022-10-12
實(shí)施日期: 2023-05-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2023年01月04日
內(nèi)容摘要

本文件描述了微透鏡陣列中微透鏡波前像差測(cè)試的測(cè)試裝置及設(shè)備、測(cè)試前準(zhǔn)備、測(cè)試原理及測(cè)試程序等內(nèi)容。
本文件適用于在共同基底的內(nèi)部或一個(gè)或多個(gè)表面上形成的由非常小的透鏡組成的微透鏡陣列的波前像差測(cè)試。

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