本部分提供的試驗(yàn)方法，適用于需要經(jīng)受模擬復(fù)雜以及混合激勵(lì)振動(dòng)試驗(yàn)的樣品。 本部分的目的是要驗(yàn)證在經(jīng)受規(guī)定的混合模式激勵(lì)后，樣品在功能和/或結(jié)構(gòu)上不會(huì)產(chǎn)生不可接受的降低。當(dāng)實(shí)際環(huán)境的振動(dòng)測(cè)量數(shù)據(jù)具有混合模式時(shí)，用本方法剪裁振動(dòng)環(huán)境特別適合。 本部分也適用于揭示隨機(jī)與正弦和/或隨機(jī)混合振動(dòng)應(yīng)力累積效應(yīng)，以及由此導(dǎo)致的樣品機(jī)械缺陷和規(guī)定性能的降低，這些信息結(jié)合有關(guān)規(guī)范可評(píng)定樣品的可接受性。在某些情況下，本試驗(yàn)方法也適用于驗(yàn)證樣品的機(jī)械強(qiáng)度。 本部分也適用于在運(yùn)輸或?qū)嶋H使用環(huán)境中可能經(jīng)受隨機(jī)和/或隨機(jī)與確定特性組合的振動(dòng)的樣品，如在航空器，航天器以及運(yùn)輸中將被裝在運(yùn)輸容器內(nèi)，并將運(yùn)輸容器作為樣品本身的一部分。 本部分適用于電工電子產(chǎn)品，也適用于其他需要的領(lǐng)域。