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絕緣材料在300MHz以上頻率下介電性能測定方法 第2部分：諧振法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 29306.2-2012
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 桂林電器科學(xué)研究所、西安交通大學(xué)、機(jī)械工業(yè)北京電工技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究所
發(fā)布日期： 2012-12-31
實施日期： 2013-06-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2021年01月27日
內(nèi)容摘要

GB/T29306的本部分規(guī)定了以諧振法測定絕緣材料介電性能的試驗方法。
本部分適用于以諧振法測定微波頻率范圍(即從約300MHz一直到光頻)中固體、液體或熔融狀介質(zhì)材料的相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和與此有關(guān)的量,如損耗指數(shù)。

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