GB/T 4937的本部分規(guī)定了快速溫度變化--雙液槽法的試驗方法。當器件鑒定既可以采用空氣?空氣溫度循環(huán)又可以采用快速溫度變化--雙液槽法試驗時，優(yōu)先采用空氣-空氣溫度循環(huán)試驗。本試驗也可采用少量循環(huán)(5次～10次)的方式來模擬清洗器件的加熱液體對器件的影響。本試驗適用于所有的半導體器件。除非在有關(guān)規(guī)范中另有說明，本試驗被認為是破壞性的。本試驗與GB/T 2423.22-2002基本一致，但鑒于半導體器件的特殊要求，采用本部分的條款。