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半導體集成電路 模擬開關測試方法

標 準 號： GB/T 14028-2018
替代情況： 替代 GB/T 14028-1992
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 國家標準化管理委員會
起草單位： 中國航天科技集團公司
發(fā)布日期： 2018-03-15
實施日期： 2018-08-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2018年05月24日
內容摘要

本標準規(guī)定了雙極、MOS、結型場效應半導體集成電路模擬開關（以下稱為器件）參數(shù)測試方法。
本標準適用于半導體集成電路模擬開關，也適用于多路轉換器參數(shù)的測試。

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