GB/T 17626的本部分涉及電子和/或電氣設(shè)備的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的測(cè)量，規(guī)定了在全電波暗室（FAR）內(nèi)進(jìn)行的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的試驗(yàn)程序。?
注：依據(jù)GB/Z 18509，本部分是供相關(guān)產(chǎn)品委員會(huì)使用的電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，如導(dǎo)則GB/Z 18509所述，產(chǎn)品委員會(huì)負(fù)責(zé)確定對(duì)其EMC產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)的適用性，TC 77/SAC/TC 246、CISPR/SAC/TC 79及其分委員會(huì)（例如，SAC/SC 7）已準(zhǔn)備好與產(chǎn)品委員會(huì)在標(biāo)準(zhǔn)制定和修訂的合作中一起來(lái)確定特定EMC試驗(yàn)在具體產(chǎn)品中的作用。?
本部分規(guī)定了在同一個(gè)全電波暗室進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)量與輻射抗擾度試驗(yàn)時(shí)的通用確認(rèn)程序、受試設(shè)備（EUT）的試驗(yàn)布置要求以及全電波暗室測(cè)量方法（詳見(jiàn)附錄A和附錄B）。?
作為電磁兼容基礎(chǔ)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)，本部分對(duì)應(yīng)用于具體裝置或系統(tǒng)的抗擾度試驗(yàn)電平或發(fā)射限值不做具體規(guī)定，其主要目標(biāo)是為國(guó)內(nèi)相關(guān)產(chǎn)品委員會(huì)提供常規(guī)測(cè)量程序，而針對(duì)產(chǎn)品的具體要求和試驗(yàn)條件由相應(yīng)的產(chǎn)品委員會(huì)來(lái)規(guī)定。?
本部分的方法適用于30 MHz～18 GHz頻率范圍內(nèi)的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)量。