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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第5部分:濕熱試驗(yàn)設(shè)備

標(biāo) 準(zhǔn) 號: GB/T 5170.5-2016
替代情況: 替代 GB/T 5170.5-2008
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位: 工業(yè)和信息化部電子第五研究所、廣州五所環(huán)境儀器有限公司、中國電器科學(xué)研究院有限公司等
發(fā)布日期: 2016-12-13
實(shí)施日期: 2017-07-01
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更新日期: 2017年07月17日
內(nèi)容摘要

GB/T 5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備(以下簡稱“設(shè)備”)的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
本部分適用于對GB/T 2423.3、GB/T 2423.4、GB/T 2423.16、GB/T 2423.50所用試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

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