本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：———標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法　溫度試驗(yàn)設(shè)備”；
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；
———增加了“術(shù)語和定義”一章；
———增加了“溫度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度過沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“溫度過沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
———?jiǎng)h除了“相對(duì)濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；
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