本標準規(guī)定了單軸晶光學(xué)晶體折射率測量方法的環(huán)境要求、測量原理與方法、檢測儀器要求、待測量樣品準備、測量步驟、數(shù)據(jù)處理和不確定度評定。本標準適用于單軸晶光學(xué)晶體的折射率測量，其他光學(xué)晶體的折射率測量可參照執(zhí)行。