1 清除凈被測(cè)物件上的污物、塵土和水。將儀器的探頭擦拭干凈。
2 按下開關(guān)鍵，儀器自檢完畢發(fā)出一鳴音，顯示”0 0”便可以進(jìn)行測(cè)量操作。
3 將探頭平穩(wěn)、垂直地放落在被測(cè)件上，待儀器鳴叫一聲，顯示器上便顯示出涂層的厚度值。然后再
抬頭高探頭，重新落下，進(jìn)行下一次測(cè)量這樣反復(fù)5—10次，就可以完成一個(gè)測(cè)量序列。
4 在測(cè)試過程中，如因探頭放置不平穩(wěn)，或探頭太臟等原因，顯示出明顯的錯(cuò)誤值，此時(shí)應(yīng)按下清除
鍵，將錯(cuò)誤值刪除。否則將影響整體測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
5 按統(tǒng)計(jì)鍵5次，可順次顯示出以下統(tǒng)計(jì)數(shù)：
MEAN—平均值；MAX—最大值；MIN—最小值；S—標(biāo)準(zhǔn)偏差；N—測(cè)量次數(shù)。
6 統(tǒng)計(jì)程序完成后，可接著進(jìn)行下一次測(cè)量序列。若需要獲得更多的連續(xù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，只要按兩次上調(diào)
鍵時(shí)，接著再進(jìn)行測(cè)量，則測(cè)量出的數(shù)據(jù)和以前的數(shù)據(jù)是連續(xù)累加的。
7 在測(cè)量過程中，若誤按校準(zhǔn)鍵時(shí)，可再連續(xù)按2次該鍵以便消除校正狀態(tài)。
若誤按校后又進(jìn)行了測(cè)量，可先用清除鍵將前次的數(shù)字刪去（按一次清除鍵則刪除前一個(gè)數(shù)字，連按二
次則將前面的全部誤測(cè)數(shù)
8 在測(cè)試過程中，如果出現(xiàn)負(fù)數(shù)值，要用清除鍵將其刪去。如連續(xù)出現(xiàn)負(fù)數(shù)，要清潔好探頭與被測(cè)物面。
9 當(dāng)探頭不能測(cè)量或測(cè)試數(shù)字明顯出錯(cuò)時(shí)，應(yīng)檢查探頭附近有無整流器、變壓器、電焊機(jī)、硅機(jī)等易
產(chǎn)生強(qiáng)電磁的設(shè)備。強(qiáng)電磁會(huì)影響測(cè)試結(jié)果，此時(shí)應(yīng)按下調(diào)鍵，顯示器顯示一下“F”后接著顯示磁強(qiáng)
強(qiáng)度，數(shù)字越接近0，表示磁場(chǎng)越強(qiáng)，空白表示無磁場(chǎng)。然后再按一下下調(diào)鍵儀器便回到正常測(cè)量狀態(tài)。
10 儀器（尤其是探頭）應(yīng)避免沖擊、打擊和污損，應(yīng)保持干燥。